VLSI测试方法学和可测性设计——高清晰pdg

kumwa · 发表于 2009-4-19 11:35:29

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VLSI测试方法学和可测性设计——高清晰pdg

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【作　　者】雷绍充邵志标梁峰 [同作者作品]

【出版社】电子工业出版社【书号】 7121003791

【上架时间】 2005-1-13

【出版日期】 2005 年1月【开本】 16开【页码】 286 【版次】1-1

kumwa · 发表于 2009-4-19 11:37:25

【内容简介】本书系统介绍超大规模集成电路(VLSI)的测试方法学和可测性设计，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路(包括电路级、芯片级和系统级)的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。
本书主要内容为电路测试、分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方洁，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测性设计，扫描和边界扫描理论，IDDO测试，随机和伪随机测试原理，各种测试生成电路结构及其生成序列之间的关系，与M序列相关的其他测试生成方法，内建自测试原理，各种数据压缩结构和压缩关系，专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。
本书既可作为从事集成电路设计、制造、测试、应用，EDA和ATE专业人员的参考用书，也可作为高等院校高年级学生和研究生的专业课教材。

目录
第0章概述
0.1 研究意义
0.2 章节安排
0.3 常用术语
第1章电路分析基础
1.1 验证、模拟和测试
1.2 故障及故障检测
1.3 缺陷、失效和故障
1.4 故障模型
1.5 故障的等效、支配和故障冗余
1.6 可控性、可观性及可测性
1.7 数字电路的各种模型和描述方法
第2章模拟
2.1 大规模设计模拟
2.2 逻辑模拟
2.3 故障模拟
第3章组合电路和的测试
3.1 简介
3.2 异或法
3.3 布尔差分
3.4 路径敏化法
3.5 D算法
3.6 PODEM算法
3.7 其他测试生成算法
第4章时序电路的测试
4.1 时序电路测试的概念
4.2 时序电路的功能测试
4.3 时序电路的确定性测试生成
4.4 时序电路的其他测试生成方法
第5章专用可测性设计
5.1 概述
5.2 可测性分析
5.3 可测性的改善方法
5.4 容易测试的电路
5.5 组合电路的可测性设计
5.6 时序电路可测性设计中的问题
第6章扫描路径法
6.1 简介
6.2 扫描路径设计
6.3 扫描路径的测试方法
6.4 扫描路径设计及测试举例
6.5 扫描路径的结构
第7章边界扫描法
7.1 边界扫描法的基本结构
7.2 测试存取通道及控制
7.3 寄存器及指令
7.4 操作方式
7.5 边界扫描描述语言
第8章随机测试和伪随机测试
8.1 随机测试
8.2 伪随机序列
8.3 LFSR的数学基础
8.4 伪随机测试序列生成电路
8.5 与M序列相关的序列的生成方法
8.6 低功耗测试序列
第9章内建自测试
9.1 内建自测试的概念
9.2 响应数据压缩
9.3 特征分析法
9.4 内建自测试的结构
第10章电流测试
10.1 简介
10.2 IDDQ测试机理
10.3 IDDQ测试方法
10.4 故障检测
10.5 测试图形生成
10.6 深亚微米技术对电流测试的影响
第11章存储器测试
11.1 存储器电路模型
11.2 存储器的缺陷和故障模型
11.3 存储器测试的类型
11.4 存储器测试算法
11.5 存储器测试方法
11.6 存储器冗余和修复
第12章 SoC测试
12.1 SoC测试的基本问题
12.2 概念性的SoC测试结构
12.3 测试策略
12.4 IEEE P 1500标准
12.5 SoC测试再探索