为什么将ICG的E端控1可以减少PAT数量

bobo_poopo

求助大神，最近遇到一个问题：transition的pattern数量太大，需要减少。
导师给的三个建议：
1.create pattern时，加上limit
2.将icg的E端constraints为1
3.插test point

但是对于第二个解决方案我有点不理解。
1.我不是很懂icg的作用
2.为什么将icg的E端控1可以减少pattern的数量

另外，对于第三点：我需要在哪些点的地方插test point能减少pattern呢

希望，有大佬可以帮忙解答一下困惑，万分感谢！！！！！

陈haha陈

我理解的话应该是将ICG的TE[img]端constrain 1，这样工具就不会去推EN端的1，减少了推pattern的复杂度。对于插test_point 有两个option ：set_test_point_type edt_pattern_count 降低pattern count；set_test_point_type lbist_test_coverage提高coverage，工具会自己去推。

bobo_poopo

   

陈haha陈 发表于 2025-12-8 15:40
我理解的话应该是将ICG的TE[img]端constrain 1，这样工具就不会去推EN端的1，减少了推pattern的复杂度。对 ...

非常感谢您解答了我的问题，但是我还是有点没懂。ICG那个，E端控成1之后，是不是就不会推E=0的pat呀，因为E不会有等于0的情况了，自然不会有E=0的pat。但是为什么icg的E端为0的pat可以不推呢，不会降低coverage吗。

陈haha陈

我们dft只处理ICG的TE端，TE端constrain为1后，工具就不会去推EN端了，因为推了也没有意义，这样会有coverage损失。所以一般是用test point来控TE端，工具在en端推不出1就会用testpoint给1，保证icg后面的逻辑有时钟。

bobo_poopo

   

陈haha陈 发表于 2025-12-9 13:55
我们dft只处理ICG的TE端，TE端constrain为1后，工具就不会去推EN端了，因为推了也没有意义，这样会有cove ...

听懂了，非常感谢！！！