设为首页收藏本站
在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)

手机号码，快捷登录

手机号码，快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
创芯云服务  : 创芯大讲堂  | 创芯人才网 | 数字IC职业培训  EETOP诚邀线上IC培训讲师!
搜帖子
EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Design-for-Test for Digital IC’s and Embedded Core ...
1 ...34567891011
返回列表 发新帖
楼主: zqzhu2006

Design-for-Test for Digital IC’s and Embedded Core Systems

[复制链接]
sunecho
发表于 2020-2-29 18:27:10 | 显示全部楼层
谢谢楼上的兄弟
回复 支持 反对

举报

martin_zheng
发表于 2021-9-13 11:48:54 | 显示全部楼层
感谢分享。
回复 支持 反对

举报

ioribenimaru
发表于 2022-3-9 12:58:55 | 显示全部楼层
根本不是书，只是slide
回复 支持 反对

举报

RayCing
发表于 2023-11-2 16:36:08 | 显示全部楼层
thanks
EETOP创芯人才网职位发布入口
回复 支持 反对

举报

1 ...34567891011
返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-4-28 06:14 , Processed in 0.019425 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表