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[求助] SMIC28中的Local variation和Global variation有什么区别呢?为什么有ttg和mos_mc两个随机模型?

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发表于 6 天前 来自手机 | 显示全部楼层 |阅读模式

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之前一直以为local就是同一批次的失配,global就是批次之间的随机分布。但仔细看了模型好像不是这样,global随机变化的参数好像要多一点。那么为什么要分ttg和mos_mc呢?难道前者是批次内的失配,后者是不同批次的变化?那么什么时候使用ttg,什么时候使用mos_mc呢?
发表于 5 天前 | 显示全部楼层
local应该是同一个die上MOS的失配,global应该包括了不同die、不同wafer、不同lot之间的variation。ttg与tt应该是一样的, mos_mc是为了做蒙特卡洛仿真用的。
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发表于 5 天前 | 显示全部楼层
Local variation---用mos_mc模型---解决器件级匹配和良率问题;

Global variation---用ttg模型---解决芯片级性能边界问题;

一个是仿真corner,一个是仿真MC;都需要的。
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 楼主| 发表于 5 天前 | 显示全部楼层


   
hanzhno 发表于 2025-9-24 13:51
local应该是同一个die上MOS的失配,global应该包括了不同die、不同wafer、不同lot之间的variation。ttg与tt ...


谢谢,但我用ttg仿真蒙特卡洛似乎也有随机变量,(没仔细看模型内部)不知道为什么要分开设置两个模型。
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 楼主| 发表于 5 天前 | 显示全部楼层


   
模拟IC在路上 发表于 2025-9-24 14:58
Local variation---用mos_mc模型---解决器件级匹配和良率问题;

Global variation---用ttg模型---解决芯片 ...


我看model前面的readme,ttg也提供local variation。实际mc仿真用ttg模型也能有随机分布(简单的divider,只考察失配),而且mos_mc和ttg对于local variation的描述差的也不是很多,我就困惑了为啥28nm要额外搞一个mos_mc的section....
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发表于 4 天前 | 显示全部楼层
你想象一个wafer,tt是圆心,FF SF FS SS分别是东南西北,local是以这几个点为圆心的小圆,global是这几个小圆覆盖不到的位置,一般来说global的MC要比LOCAL更可信,或者说更接近最差结果
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