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hanzhno 发表于 2025-9-24 13:51 local应该是同一个die上MOS的失配,global应该包括了不同die、不同wafer、不同lot之间的variation。ttg与tt ...
模拟IC在路上 发表于 2025-9-24 14:58 Local variation---用mos_mc模型---解决器件级匹配和良率问题; Global variation---用ttg模型---解决芯片 ...
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