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本帖最后由 buaarom 于 2025-7-23 16:56 编辑
项目在进行scan插入流程,需支持stuck-at和transition两种模式。梳理出错和尝试的过程如下:
1、dc综合生成的spf里有两个PatternExec(Internal_scan和Internal_scan_occ_bypass)。
2、修改端口时,patternexec分别用Internal_scan_occ_bypass 和Internal_scan修改spf文件。
其中Internal_scan_occ_bypass(stuck-at模式)没问题,能一直跑通流程;
但是patternexec用Internal_scan(transition模式)有问题,修改完端口后,跑tmax时(run_drc)会报错:
报找不到occ相关的net:
Error: Line 445(xxxx.spf), unresolved reference (No such net "xxx/clk_200m"). (V5-1)
Error: Line 447(xxxx.spf), unresolved reference (No such net "xxx/clk_100m"). (V5-2)
Error: Line 457(xxxx.spf), unresolved reference (No such net "DFTC__snps_clk_chain_0/clk_ctrl_data[2]"). (V5-3)
Error: Line 463(xxxx.spf), unresolved reference (No such net "DFTC__snps_clk_chain_0/clk_ctrl_data[3]"). (V5-4)
3、为了解决”找不到net”这个错误,手动在这几个net的前面加上顶层。 即 xx_dig_top/xxx/clko_200m
4、步骤3之后再跑tmax, run_drc报新的错:(2个警告,和1类错误)
Warning: Rule V7(unsupported construct) was violated 4 times。
Warning:No reference clocks have been defined (M563)
Error: Chain chain1 blocked at DFF gate xxxx after tracing 0 cells(S1-1) (怀疑该错误是由前面warning引起的)
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