HighScore plus 5.3 完美

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不断发展的软件包
带/不带 Plus 选项的 HighScore 版本 5.3 是一个新的次要版本版本。以下是与 HighScore 5.2 相比的新功能和更新功能：


添加了新的样本位移模型/方程（《应用晶体学杂志》：https://doi.org/10.1107/S1600576724006460）用于模拟/拟合以及校正。它可以校正比前一个方程大得多的位移。
每个数据集在“常规扫描信息”下包含一个新属性“观察到的样本位移”，搜索/匹配使用该属性将扫描和峰值移动到正确位置。
新选项用于创建所有程序设置的类似表格的 MS Word 或 PDF 报告。
缩放概览附加图形窗格中的实时 PIP（画中画）图形。
可以从 XRDML 导入更多非环境数据（例如电荷、电压和电流）。现在可以导入和显示平均值以及最小值和最大值。
所有非环境数据也可在 XRDML 报告中以表格和图形的形式提供。
Phase Guard（假阳性过滤）是基于数据信噪比 (SNR) 的动态阈值。它会自动适应不同的仪器和测量设置以及不同的相位散射功率。它可以单独应用，也可以与最小权重百分比阈值结合使用。
脚本功能也适用于 HighScore，而不仅仅是 Plus 选项。
新的脚本 IDE 选项：代码折叠、搜索脚本内容、字体大小滑块。
结构因子推导 (SFD) 方法取代了直接推导 (DD) 方法。
改进的颜色管理，具有预定义和开放的颜色列表，包括 HTML 颜色的导入/导出、“反向顺序”选项以及打开/关闭颜色。
使用偏移量，可以将颜色列表应用于扫描、相位和图案。可以使用相同的颜色管理来为等值线图和 3D 图创建/编辑自定义调色板：
更多多数据集显示选项，包括所有扫描图形以及扫描与相位矩阵中的层厚度（以百分比或微米为单位）。
通过 OmniAccess 增加授权选项，允许将 HighScore (Plus) 转变为操作员 UI/查看器，其中只能执行智能批处理。
特点
在一个用户界面中完全集成所有任务
所有软件功能都无缝集成在程序中。 图形和文本或列表均有链接。 编辑图形会立即更新文本或列表，反之亦然。 所有功能（包括批处理）均可撤消/恢复多次。 可以自定义和存储每个图形或文本窗格的大小、可见性和内容，以备将来使用。 某些桌面和外观是预定义的。 缩略图有助于选择正确的原始数据或分析结果。 可使用用户拥有的参数集以多种方式执行每项任务。


强大的搜索-匹配算法
HighScore (Plus) 中的搜索-匹配算法将峰轮廓和网轮廓数据合并到一个搜索步骤中，通常会得出最可靠的结果。 它可以调整为仅使用峰值数据（更有区分性）或仅使用轮廓数据（不太有选择性）。 候选簇功能可抑制候选列表中的多个类似谱图的条目，从而更容易鉴定衍射图中的次要物相。 这些功能使 HighScore (Plus) 成为物相鉴定的首选软件。


参考数据库
HighScore (Plus) 支持同时使用多个参考数据库。 您可以同时搜索无机和有机数据库。 支持所有类型的参考数据库，从实际数据库到旧式数据库，从优质 ICDD 产品到中等价位的解决方案，再到免费下载的数据库，甚至还包括剑桥结构数据库。


用户拥有的参考数据与商业数据库分开保存，并可存储在任意多个单独的用户数据库中。 所有数据库（商业类型或用户拥有）均可包含参考数据、结构数据和参考扫描。


基于文档的结构，包含历史记录和多个数据集
HighScore (Plus) 可在测量副本上工作，并且不会影响原始扫描。 测量扫描以及从测量过程和分析结果得出的数据都整理在文档中。 每个文档包含多个数据集，可以自动批量处理这些数据集。 数据集之间以及文档之间的数据交换就像复制和粘贴操作一样简单。 每个文档都包含其自己的分析历史记录以及所有分析步骤和使用的设置。


自动执行分析
HighScore (Plus) 能够将常用的数据处理、分析和报告步骤序列存储到用户批次中。 只需点击一下鼠标，即可执行包括报告在内的完整物相鉴定。 使用“自动处理程序”，通过命令行界面启动 HighScore (Plus)，可以进一步实现自动化。


使用自动报告让您的工作变得轻松
HighScore (Plus) 具有广泛的报告功能。 可以使用 Microsoft Word 模板完全自定义报告，并且允许用户添加公司徽标、介绍性文本、图片以及软件的任何分析结果。 此外，还可以创建各种 ASCII 格式的输出，比如用以连接到 LIMS 系统。


先进的轮廓拟合，拥有 3 种模型函数和多种选项
除了通用的 pseudo-Voigt 函数和 Pearson-7 轮廓函数，HighScore (Plus) 还支持真正的福格特函数，这对晶粒大小和微应变（或线型）分析尤其有用。 所有轮廓函数都可以使用未分割、按 FWHM 或按形状的单分割或双分割，来优化不对称轮廓和复杂轮廓的描述。 专有解析工具允许在不使用参数开启序列的情况下，稳定地精修数百个峰值参数。 图中显示了单个峰轮廓、总和轮廓以及平均 FWHM 或通用形状沿扫描轴的变化。



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