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[原创] 8-Bit 40MS/s SAR-ADC电路源文件分享

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发表于 2025-5-16 09:58:05 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 DT27 于 2025-5-26 16:10 编辑

基于180nm工艺的8位40M采样频率异步SAR ADC设计


本项目的顶层电路包含了以下几个重要模块:
  • 栅压自举开关(Bootstrap Switch):用于控制电路的开关状态,保证在高速采样时信号的稳定性和准确性。
  • Vcm_Based开关时序:这是一种优化过的开关时序,它利用Vcm(共模电压)技术,使得ADC在各种环境下都能保持优秀的性能。
  • 上级板采样差分CDAC阵列:CDAC是数字模数转换器(DAC)的一部分,其阵列设计使得ADC的线性度和精度得到提高。
  • 两级动态比较器:用于信号的快速比较,提高了ADC的转换速度。
  • 比较器高速异步时钟:提供稳定的异步时钟信号,确保比较器的正确工作。
  • 动态SAR逻辑:这是ADC的核心部分,负责逐次逼近并完成模数转换。
  • 8位DFF输出:数字输出缓冲器,用于将ADC的输出数据稳定地传输到后续电路。
  • 8位理想DAC:作为ADC的参考标准,用于校准和测试ADC的性能。


前仿有效位数ENOB=7.84  后仿ENOB=7.377

以下隐藏内容为本电路源文件所使用的工艺信息:

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TOP CELL前仿规格
输入差分正弦信号范围
0~1.6 V
输入差分正弦信号频率
117K Hz
输入系统时钟频率
40M Hz
电源电压
1.8 V
ENOB
7.8 Bits
SNR
48.94 dB
SFDR
65.48 dBc


免责声明:
该电路非本人设计,并没有拿该电路进行盈利。分享该电路主要帮助初学者少走弯路,加快学习速度。发扬互联网开源精神,不要重复造轮子。


本电路源文件Library中所有的Cell

本电路源文件Library中所有的Cell

TOP CELL的TestBench

TOP CELL的TestBench

TOP CELL的TestBench

TOP CELL的TestBench

TOP CELL的TestBench

TOP CELL的TestBench

TOP CELL的Layout

TOP CELL的Layout

8_BIT_SAR_ADC_ckt_9_23.tar.gz

23.09 MB, 下载次数: 310 , 下载积分: 资产 -7 信元, 下载支出 7 信元

电路文件

8bit_SAR_ADC设计总结.pdf

2.86 MB, 下载次数: 348 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

设计仿真文档

发表于 2025-5-16 10:07:05 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2025-5-16 10:09:45 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2025-5-16 10:10:08 | 显示全部楼层
谢谢分享~
发表于 2025-5-16 10:16:04 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2025-5-16 10:16:25 | 显示全部楼层
good good
发表于 2025-5-16 10:25:56 | 显示全部楼层
XUE XI YI XIA
发表于 2025-5-16 10:52:37 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2025-5-16 11:09:48 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2025-5-16 11:14:13 | 显示全部楼层
ka看看,感谢分享
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