电路Aging老化仿真，HCI mode下发生老化，但是PBTI和NBTI下仿真没有发生老化

黛青青青 · 发表于 2025-5-16 08:21:31

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有大佬做过Aging仿真么？

企业微信截图_20250512103912.png

我的仿真结果中，HCI mode是正常变化的，7年左右达到0.1的退化标准，
但是在PBTI mode和NBTI mode下仿真达到0.1的退化标准，得到的使用寿命是10e9年。

然后我单独仿真了PBTI mode和NBTI mode，发现在这两个模式下的电路不发生老化。
接着试了十个不同的管子，发现PBTI mode和NBTI mode下都未发生老化。

下载1.png

请问是我哪里设置错了还是mode本身有问题？

(公司的电脑不能截图，只能拍照)

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