在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 248|回复: 1

[资料] Reliability of CMOS Analog ICs

[复制链接]
发表于 昨天 10:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
100资产
这本书有人有吗?


Overview
Authors:Hakan Kuntman ,
Deniz Özenli ,
Fırat Kaçar ,
Yasin Özçelep
Presents recent advances in statistical method based reliability estimation of MOS transistors
Includes discussion of theory and experimental results, in order to demonstrate efficacy of techniques presented
Discusses design examples for specific application areas, enabling readers to follow recent advances and trends



https://link.springer.com/book/9783031854545



发表于 昨天 10:46 | 显示全部楼层
帮顶
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-4-28 22:21 , Processed in 0.013798 second(s), 6 queries , Gzip On, MemCached On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表