麦科信MOIP光隔离探头解决碳化硅（SiC）项目问题

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           麦科信MOIP光隔离探头解决碳化硅（SiC）项目问题                                      
  作为某新能源车企的电机控制系统工程师，我的日常总绕不开碳化硅（SiC）器件的双脉冲测试。三年前用传统差分探头测上管Vgs的经历堪称“噩梦”每当开关动作时，屏幕上跳动的±5V震荡波形，让我误以为是电路设计缺陷。团队为此反复修改驱动参数、调整死区时间，甚至重做了两版PCB，问题依旧无解。
                 
  直到去年参加行业技术论坛，听到同行提到“共模抑制比（CMRR）”这个概念，才意识到问题可能出在测试工具上。
  传统差分探头的CMRR在高频很低，而SiC器件开关产生的高频干扰，足以让真实信号淹没在噪声中。我们测出来的波形要么糊成一片，要么直接被噪声淹没，团队里好几个同事都快被逼疯了。
  后来公司采购了这个麦科信MOIP系列探头，大家一开始还半信半疑，觉得“能好到哪儿去？”结果一上手，真的让所有人都很吃惊！信号清晰的一批，连那些微弱的振铃都能看得一清二楚。以前测半天测不出来的细节，今天几分钟就搞定。
  首次使用MOIP-500P连接上管Vgs时，显示的波形干净得令人意外——上升沿的震荡幅度从±5V降至±0.2V。其180dB的CMRR在1GHz频段仍保持108dB，相当于将高频噪声能量压制到原来的十亿分之一。在使用过程中，我们发现它的操作非常便捷。上电即测，校准时间感觉1秒都没到就完成了，这种高效便捷的体验让我们在测试过程中真的节省了不少时间。
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  总的来说，麦科信MOIP系列光隔离探头在我们的氮化镓项目中发挥了重要作用，帮助我们解决了高频信号测量的难题，。如果你的项目中也遇到了类似的测量挑战，不妨试试套用我的解决方案。