DFT_fault分析

jinfeier · 发表于昨天 10:36

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大佬，我知道DFT有个诊断功能可以根据ATE出的fault文件推断出设计中fault点，那么我们在推pattern时，能否在设计阶段推断出每个pattern所定位的sa0、sa1点的门电路呢？目前使用tetramax做dc分析

mgc455 · 发表于昨天 11:07

我之前用genus+tessent做这个，反推fault的时候需要的就是pattern文件，ATE的fault文件主要就是周期数，预计值和实际值，没试过设计的时候，理论上仿真的时候将某个可观测的cell的一个端口force为0或者1，可以得到和ATE差不多的信息。

jinfeier · 发表于昨天 11:48

mgc455 发表于 2025-1-7 11:07
我之前用genus+tessent做这个，反推fault的时候需要的就是pattern文件，ATE的fault文件主要就是周期数，预 ...

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我用的tetramax,这个是ATE提供的一个fault文件，log形式的，我读入后老显示格式错误，费解，不知道ATE正常提供的文件是什么格式的呢。里面长啥样啊

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