IC ESD测试相关问题

学无止

小白，在学习设计IC ESD试验方案的时候，遇到几个问题，根据JEDEC JS-001-2023，HBM测试时：
1.Power to GND Zap完之后是否还需要GND to Power进行Zap，或者哪种情况下需要？
2.Power group分组的时候大多电压相同的会分为一个group，这样放电可以减少多次放电带来的静电累积，比如1.1V power to 3.3V power，如果同样是1.1V Power的两个电源内部相互独立，或者内部连接电阻＞3Ω，还可以划分到一个Power Group里面吗，划分到同一个Group里时放电会有影响吗；同理GND也有疑惑，两个AVSS_AUX和AVSS_DAC如果是独立的可以划分到GND Group里面吗
3.想请教下大家对IV Curve ESD前后Shift的理解和判定