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[求助] pad串接电阻保护输入管gate,为啥要选用poly电阻呢?

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发表于 2024-11-15 15:29:11 | 显示全部楼层 |阅读模式

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有朋友研究过,pad串接电阻保护输入管gate这种,fab提供的文档一般都推荐用poly电阻,想问下这个电阻有啥讲究吗,用阱电阻或者扩散电阻,或者是高值电阻,行还是不行呢?选用poly是基于散热考虑么?
 楼主| 发表于 2024-11-15 15:43:13 | 显示全部楼层
自己回复一下
不选用阱电阻或者扩散电阻是因为在esd泄放的过程中,这两个电阻器件有PN结,这个pn结有击穿的风险
不选用高值电阻是因为高值电阻面积小,不利于散热
不知道这两点是不是考虑选用poly电阻原因呢
发表于 2024-11-15 15:46:09 | 显示全部楼层
poly电阻通用一点,不用增加mask?
 楼主| 发表于 2024-11-15 16:00:01 | 显示全部楼层


zt2455 发表于 2024-11-15 15:46
poly电阻通用一点,不用增加mask?


那扩散电阻和阱电阻也不增加mask哇
发表于 2024-11-15 16:05:53 | 显示全部楼层
1.热稳定性好,高温下阻值变化小
2. 布局方便
3.对高压ESD事件,又更好的承受能力
4.电流分布均匀,有助于避免电流热点,提高ESD保护可靠性
以上来自AI
 楼主| 发表于 2024-11-15 16:14:40 | 显示全部楼层


zt2455 发表于 2024-11-15 16:05
1.热稳定性好,高温下阻值变化小
2. 布局方便
3.对高压ESD事件,又更好的承受能力


对于第三点不太理解,其他几种类型的电阻承受能力差么,承受能力是指的电压还是电流呢,有详细一点点的解释么
发表于 2024-11-16 09:45:44 | 显示全部楼层
其实大部分情况用阱电阻并没有问题,以前有很多电路用阱电阻的。在标准CMOS工艺中,NW/PSUB结的击穿电压也是最高的,不用担心这个结先于ESD保护电路击穿的风险。
 楼主| 发表于 2024-11-18 09:47:41 | 显示全部楼层


acrofoxAgain 发表于 2024-11-16 09:45
其实大部分情况用阱电阻并没有问题,以前有很多电路用阱电阻的。在标准CMOS工艺中,NW/PSUB结的击穿电压也 ...


好的 谢谢,但paper上写的基本都是用poly,既然阱电阻也可以用,那poly的优势体现在哪儿呢,面积紧凑?
发表于 2024-11-18 10:24:01 | 显示全部楼层
我想,至少阱电阻的寄生电容比多晶电阻大。这点电容可能对有些电路没影响,但是fab需要对每一种ESD结构都进行验证,既然poly电阻好使,何苦再去验证另一种呢。
 楼主| 发表于 2024-11-18 11:00:01 | 显示全部楼层


acrofoxAgain 发表于 2024-11-18 10:24
我想,至少阱电阻的寄生电容比多晶电阻大。这点电容可能对有些电路没影响,但是fab需要对每一种ESD结构都进 ...


谢谢,有一定道理
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