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[求助] fanout 封装可靠性

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发表于 2024-10-25 15:44:42 | 显示全部楼层 |阅读模式

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求助:fan out 封装(EWLB),且背面silicon 露出来的,请问一下,这种封装能过MSL2么?需要在哪里改善可以过MSL2?

我现在碰到的问题是MSL2 电测没问题,但是TC200次以后,性能偏移的很大
发表于 2024-10-28 17:03:36 | 显示全部楼层
MSL2 电测没问题----Precondition MSL2 Pass。你是想把封装外形变更成FANOUT工艺WLSCP封装,担心MSL2失效吗?
 楼主| 发表于 2024-10-29 17:23:07 | 显示全部楼层
对的,现在就是已经用fanout 的封装做MSL2电测失效了,但是想知道是什么原因导致的失效或者如何去找因为fanout 导致的失效位置
发表于 2024-11-21 14:32:38 | 显示全部楼层
如果是在TCT 200 cycle後出現電性偏移情形,不排除元件受封裝應力影響~可以試試wafer表面護層加厚
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