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随着人工智能技术的快速发展，到了人工智能大模型，AI PC的时代，AI堆栈正逐渐成为开发和部署AI应用程序的核心技术。随着多系统集成带来的新挑战，集成电路往更小尺度、更高集成度和更多功能方向发展，设计越来越复杂，信号越来越小，半导体检测精度和可靠性愈发严格和重要。
随着技术的发展和阵列规模的增大，测试过程的自动化将变得越来越重要。为大家附上泰克提供的”新一代高速存储单元及类脑计算、神经元网络测试方案等资料包，助力大家在这个领域的学习和创新应用。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案汇编 相变材料及器件电学表征测试方案 忆阻器单元基础研究测试方案 忆阻器单元性能研究测试方案 低维神经元网络阵列测试方案 三端器件节点神经元网络阵列测试方案 神经元网络阵列测试方案 神经形态计算器件和阵列测试解决方案 铁电材料及铁电电子器件电学表征 自旋电子学 - 电输运表征及器件测试
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发表于 2024-9-26 10:58:57
发表于 2024-9-26 16:45:52
