栅压自举开关测试

firefly星 · 发表于 2024-8-31 14:11:33

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在12bit的SAR ADC中，在20MHz的采样频率，将近10MHZ的奈奎斯特输入频率下，栅压自举开关中采用单端测试的时候有效位数为11bit，采用差分测试时有14bit，但是在TOP电路里测出来的结果只有11bit，那差分测试的结果有什么参考价值吗？

zhengzih · 发表于 2024-8-31 15:51:07

TOP电路里如果是差分接法，那就是级联的电路存在问题导致的

firefly星 · 发表于 2024-9-2 11:16:55

zhengzih 发表于 2024-8-31 15:51
TOP电路里如果是差分接法，那就是级联的电路存在问题导致的

但我用开关（单端测试有13bit，差分15bit），放进TOP电路之后，测试结果就有12bit了

连先森 · 发表于 2024-9-2 15:55:19

测试电路和top电路不完全一样的，局部的测试需要有一定的裕量

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