DFT transition fault

兵临城下 · 发表于 2024-8-14 14:52:24

求助两个问题：

1. 芯片内部无PLL，如何做AC测试啊？具体流程是什么？
2. 如果芯片的function clk低于 ATE CLK， AC测试流程又是什么样？以及ATPG如何产生transition fault pattern?

greatao · 发表于 2024-8-14 16:41:42

不需要做transition

guiqix · 发表于 2024-8-16 11:27:20

芯片内部无PLL，那function模式时钟怎么来？ SCAN AC测试基本就是复用function clock。如果func 高频clk从外部给进来，scan AC就可以直接用
如果func clk低于ATE clock（scan clock），那就没必要测试transition了，stuck已经覆盖了

zymthb · 发表于 2024-10-25 17:53:15

频率低的话直接用ATE的时钟做AC就行

zxfzpf · 发表于 2024-11-4 10:58:58

mark ， mark ，mark

verifier_TDL · 发表于 2024-11-7 11:16:32

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[求助] DFT transition fault