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查看: 367|回复: 5

[讨论] 理想VTC如何仿真

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发表于 2024-8-1 10:17:08 | 显示全部楼层 |阅读模式

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按照论文搭建了一个理想VTC,通过时钟来控制采样与输出,用两个VTC做差分输入,得到IN和IP作为后面TDC的输入信号


                               
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现在的测试方法只是用我搭出来的理想SAR TDC转换后输出数字码 然后再通过VA写的理想DAC转换成电压波形,然后做DFT什么的。感觉不太靠谱,请问有没有什么办法直接对VTC的信噪比什么的进行测试呢?想VA写一个理想TVC 但是不太知道要怎么实现时间到电压的转换
发表于 2024-8-2 10:44:06 | 显示全部楼层
用VA做DAC转回电压这样做没有什么问题,不过我比较好奇的是VTC出来的STA与STO能算差分讯号吗?  还是你的TDC本身可以办法判断IN与IP谁是STA与STO?
 楼主| 发表于 2024-8-2 10:58:23 | 显示全部楼层


tofu0525 发表于 2024-8-2 10:44
用VA做DAC转回电压这样做没有什么问题,不过我比较好奇的是VTC出来的STA与STO能算差分讯号吗?  还是你的TDC ...



复现的这篇论文,刚接触这些不知道理解的对不对,VTC输入是一个差分的信号 输出IP和IN上升沿到来的时刻不同,脉宽应该也是不一样的,两个信号的下降沿是重合的,主要关注TIN的大小,经过SAR的这样一个过程来得到TIN的数字码。我感觉是先到的信号作为STA,另外一个是STO

 楼主| 发表于 2024-8-2 11:00:30 | 显示全部楼层

                               
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发表于 2024-8-2 11:22:39 | 显示全部楼层
参考这篇看看,不知道对你有没有帮助


D. J. Lee, F. Yuan and Y. Zhou, "All-Digital Successive Approximation TDC in Time-Mode Signal Processing," 2021 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Daegu, Korea, 2021, pp. 1-4, doi: 10.1109/ISCAS51556.2021.9401207. keywords: {Semiconductor device modeling;Interpolation;Uncertainty;Simulation;Linearity;Registers;Signal resolution},

 楼主| 发表于 2024-8-2 14:36:18 | 显示全部楼层


tofu0525 发表于 2024-8-2 11:22
参考这篇看看,不知道对你有没有帮助


好的 谢谢
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