在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 606|回复: 3

[求助] atpg过程出现激励问题

[复制链接]
发表于 2024-7-30 19:39:36 | 显示全部楼层 |阅读模式
20资产
在用modus DFT工具做atpg时,出现了TTM-489的warning

[TTM-489][severe] event 1.1.1of the test mode initialization sequence produced a soft contention on 3-state I/O net : PB[1].
The contention is partly dur to 3-state primary input: PB[1] being at logic value 1.

我猜测是激励没给对,因为波形上都是错的
想问问这个warning是啥意思,没理解

发表于 2024-8-1 00:50:56 | 显示全部楼层
直接看一下是否这个IO的OE被打开做output了?
 楼主| 发表于 2024-8-1 16:33:38 | 显示全部楼层


kk2009 发表于 2024-8-1 00:50
直接看一下是否这个IO的OE被打开做output了?


是的,这个IO的OE被打开了,IE是为0的

但是同时有另一个IO也报了这个warning,那个IO的IE和OE都是为1,这是为啥啊
另外我想请问一下,这个warning的意思是啥,不是很理解
感谢解答
发表于 2024-8-6 08:33:27 | 显示全部楼层
其实很简单,这些IO的OE和IE必须tie 成你需要的input或者output,因为在scan情况下,如果不tie成固定的input或者output,控制OE和IE的寄存器会toggle,导致该做output的,可能在某个cycle被设置成input了,某个input被设置成output,那么本来在scan mode下做input的岂不是没有办法输入了?
简单来说SI和test control 信号的IO必须tie成input,SO必须tie成output。
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-12-22 15:03 , Processed in 0.015874 second(s), 7 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表