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职位描述: 1. 根据需求,完成芯片的DFT设计方案; 2. 负责SCAN、MBIST、Boundary SCAN、Hard Macro Test等DFT功能实现; 3. 负责DFT的时序约束与优化收敛; 4. 负责DFT测试Pattern生成与覆盖率提升; 5. 负责测试Pattern调试、测试时间优化与良率提升。 职位要求: 1. 计算机、微电子、电路与系统等芯片设计相关专业; 2. 熟悉DFT开发流程,具有丰富的SCAN、MBIST、Boundary SCAN、Hard Macro Test等DFT经验; 3. 熟悉DFT Compiler、DFTMax、TetraMax、TestKompress、Tessent MBist等常见DFT工具的使用; 4. 具有丰富的DFT时序优化、测试Pattern生成、测试Pattern调试、测试时间优化与良率提升经验; 5. 具有手机、IPC、ADAS、AI等芯片DFT设计经验者优先。
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