急救，如何对Tessent生成的BISR修复电路仿真

GartLeo

各位大佬们，本人纯纯DFT小白，最近在尝试阅读Tessent生成的BISR部分的电路逻辑，包含mbist_interface中的col_redundancy_analysis那里，但是对于Tessent生成的TB文件一直不太会用。我的思路是在我的设计模块中注入两个错误（通过内存行为模型自带的fault_inject），然后对BISR的修复部分电路进行仿真查看波形。但是用vcs对MemoryBisr_BisrChainAccess.v MemoryBist_parallelRetentionTest_P1.v这两个TB仿真后发现修复部分信号一直都是0，想请问下大佬们如果我想要看修复这两个注入错误的话，应该是用什么TB进行仿真啊

GartLeo

D:\2024\fault_inject.png

GartLeo

顶一下

GartLeo

在Tessent手册里翻到了这段，应该是描述用于测试BISR和BIRA的pattern spec，带我再研究研究怎么用
PatternsSpecification(core,rtl,signoff) {
Patterns(MemoryBist_P1) {
IjtagRetargetingOptions {
tck_period : 100ns;
}
ClockPeriods {
clka : 9.00ns;
}
TestStep(ClearBisrChain) {
MemoryBisr {
run_mode : bisr_chain_access;
Controller(core) {
BisrChainAccessOptions {
default_write_value : all_zero;
}
}
}
}
TestStep(PreRepair) {
MemoryBist {
run_mode : run_time_prog;
Controller(core_rtl_tessent_mbist_c1_controller_inst) {
DiagnosisOptions {
compare_go : on;
}
RepairOptions {
check_repair_status : non_repairable;
}
}
}
}
TestStep(CaptureBiraRotate) {
MemoryBisr {
run_mode : bisr_chain_access;
Controller(core) {
BisrChainAccessOptions {
enable_rotation : On;
enable_bira_capture : On;
}
}
}
}
TestStep(PostRepair) {
MemoryBist {
run_mode : run_time_prog;
reduced_address_count : on;
Controller(core_rtl_tessent_mbist_c1_controller_inst) {
DiagnosisOptions {
compare_go : on;
compare_go_id : on;
}
}
}
}
}
}

GartLeo

顶一下，有无大佬指点下

liph123

你这个故障注入的.v里面，memory的层级关系呢，举个例子，TB.DUT_inst.Rf_memory.fault_inject(0,0,0);，你这样直接写工具应该是找不到这个memory的。另外，可能vcs的option设置可能有问题。还有就是，先注一个错吧，先跑通再加两个错（如果你的memory可以同时修复两个fault的话）

GartLeo

liph123 发表于 2024-4-23 17:05
你这个故障注入的.v里面，memory的层级关系呢，举个例子，TB.DUT_inst.Rf_memory.fault_inject(0,0,0);，你 ...

感谢大佬回复！有关错误注入，我在最后仿真的log里面确实发现没有诸如成功，所以我把错误注入放在tessent吐出来的那个修改过的design的.v文件里面了；另外有关测试pattern，我按照手册上的生成了测试pattern，目前还在看波形中