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[求助] 关于DC综合后设计内部单元pin的fanout过多的问题

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发表于 2023-8-27 00:12:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

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我做的是一个组合逻辑,在用DC综合出网表之后,根据单元库默认的DRC约束没有错误,用网表进行前仿后发现输出结果异常,原因是设计中的锁存器的使能端信号下降过慢,该使能信号所连接的锁存器太多,而这个使能信号是经由两个输入信号进行或非再经过一个buffer后连到锁存器的,所以想请教一下各位大佬,这种非输入输出节点的fanout或者说负载过高的问题应该怎么设置DC的各种参数来解决呢?

锁存器的使能端信号相较于输入端信号的变化缓慢

锁存器的使能端信号相较于输入端信号的变化缓慢
发表于 2023-8-27 12:06:45 | 显示全部楼层
max_transition or max_fanout约束一下看看;
 楼主| 发表于 2023-8-27 12:34:14 | 显示全部楼层


hzhou 发表于 2023-8-27 12:06
max_transition or max_fanout约束一下看看;


这些好像是约束IO port的?我试过在input pin上加max_transition和max_fanout的约束,但是内部单元输出pin的扇出还是那样
发表于 2023-8-27 20:02:44 | 显示全部楼层
用set_max_transition约束design;
发表于 2023-8-29 11:44:42 | 显示全部楼层
前仿没必要处理这个信息,仿真的时候notimingcheck,物理实现的时候会处理高扇出问题
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