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[求助] 求助28nm工艺耦合电路EOS问题

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发表于 2023-7-25 16:09:41 | 显示全部楼层 |阅读模式

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请问如下问题:时钟信号经过电容耦合到偏置电压上,改电压把耦合节点的信号最高电压抬高,mos管耐压为1V,如果节点电压上升至1.3V,对该core管的寿命影响大吗?

应该怎么判断哪个电压下core管寿命急剧下降。

                               
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发表于 2023-7-26 09:37:21 | 显示全部楼层
本帖最后由 fei_SH 于 2023-7-26 10:15 编辑

如果想看可靠性的寿命,去看看MOS的HCI SOA曲线,看看那个栅压下寿命最低。
如果想看MOS的烧毁电压,去看看MOS的TLP SOA曲线,看看那个栅压下MOS最容易烧坏。
发表于 2023-7-26 10:57:46 | 显示全部楼层
本帖最后由 mars0904 于 2023-7-26 13:32 编辑

一般28nm工艺会有Aging model,仿真看看。
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