FT测试需要使用DFT吗？

qiufeng · 发表于 2023-1-30 10:03:04

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求助各位大神，我们的芯片做了DFT，CP阶段肯定会做DFT测试
芯片有多个封装，某些封装下有些引脚可能不封出来，后端反馈这样没办法在FT阶段做DFT。

FT阶段我理解应该是关注功能和封装的良率，FT是不是可以通过功能测试来做，不用DFT？

greatao · 发表于 2023-1-30 10:30:24

你是DFT的吗？
DFT设计的时候选择那些封装出来的管脚复用即可，CP和FT的测试都可以用DFT向量。

John_Zhang · 发表于 2023-1-30 17:41:53

常规DFT前期设计就需要考虑封装的问题，如果封装导致DFT的port没有封装出来，那就没有办法FT测试

voiluce · 发表于 2023-2-1 09:21:06

后端反馈这样没办法在FT阶段做DFT。
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考虑FT的时候管脚就行，其他管脚只做moniter，不参与向量in out 就行。

suxin007 · 发表于 2023-3-8 12:08:43

封装后的芯片DFT如果既没有封出来，也没有GPIO MUX做复用，会存在很多问题：1、FT功能覆盖的测试成本开销会比DFT覆盖的测试成本开销大很多；2、老化、HTOL/LTOL的时候老化向量设计不好设计；3、后期芯片失效分析，异常定位等不好做；4、DFT测得如果有问题后面才发现的话返工困难；

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