CP测试，每次扎针测试值有变化

xihuwang

Hi，dear all ：
      CP测试，每次扎针测试值有变化，有何解决测试？（如控制探针压力？）

nanke

什么电路？考虑接触电阻的影响再分析。

xihuwang

nanke 发表于 2023-1-28 15:27
什么电路？考虑接触电阻的影响再分析。

是电荷泵型电路，外接飞电容和稳压电容。

OD +10，OD+40，输出电压差异200mV。

问题：
1） 接触电阻大致量级？
2）有何措施？

nanke

xihuwang 发表于 2023-1-28 16:06
是电荷泵型电路，外接飞电容和稳压电容。

OD +10，OD+40，输出电压差异200mV。

电荷泵型电路，外接飞电容和稳压电容  ——是指不停开关的电荷对电容充电或放电？然后通过反馈环路调节电容上电压不变？如果有反馈环路还需考虑CP测试导致环路不稳定的可鞥
od+10和od+40——这是什么意思？


CP测试接触电阻case by case，可以问一下之前使用过该仪器的人，仪器不太行的时候，上千欧也是有可能的。
无法改善仪器的情况下，可以修改测试方法，对于精确的电压测量，可以让电流通路与测量通路分开，并减小测量通路分得得电流，这样待测电压与实际电压的压差I*R就就减小了。

xihuwang

nanke 发表于 2023-1-28 16:33
电荷泵型电路，外接飞电容和稳压电容  ——是指不停开关的电荷对电容充电或放电？然后通过反馈环路调节电 ...

好的，感谢支持。

hieli

可能是电流过小不能击穿接触薄膜电阻，前置大电流项击穿接触薄膜就可以

xihuwang

hieli 发表于 2023-1-28 22:18
可能是电流过小不能击穿接触薄膜电阻，前置大电流项击穿接触薄膜就可以

谢谢回复。

mmkyy

最有可能是每次探针扎到pod上的压力不同，从而导致接触电阻不同。“OD +10，OD+40，输出电压差异200mV”，考虑到传输电流，电压差异200mV是完全可能的。一般来说，如果不用开尔文接法，考虑到探针和Pad的材质接触电阻的差异可能为几欧姆到几百欧姆。一劳永逸的办法是用开尔文接法，业界一般对测试精度要求小于1欧姆的电阻，建议用开尔文接法。

dmf336

thanks for sharing