SOC中模拟IP的BIST怎么设计

qiufeng

各位大佬，刚刚接触DFT，最近有个疑问。
就是在SOC中做模拟IP的BIST的时候，此时芯片是function模式的还是在scan模式下呢？

IP没有单独的BIST接口，如果在scan模式下，IP工作需要的输入，比如trim和各种激励如何给呢？
复位和时钟是否也要切换到scan_clk。

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（1）这个模拟IP的BIST功能，需要在线测试吗，就是系统运行前或者过程中需要检查这个IP的BIST功能；需要的话就要保留function模式的BIST测试，如果不需要，那应该就可以只做SCAN模式下的，这里涉及到in-system test部分的内容；

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（2）这里所说的输入，是不是可以考虑成是一些寄存器需要配置，可以加入相应的逻辑，使得测试逻辑可以对寄存器总线进行读写操作；

qiufeng

1016958509 发表于 2022-11-17 17:21
（2）这里所说的输入，是不是可以考虑成是一些寄存器需要配置，可以加入相应的逻辑，使得测试逻辑可以对寄 ...

多谢指点

我理解的BIST不需要每次运行前测试，只需要在CP阶段测试，这样就只需要在SCAN模式下实现BIST了吧？
如果要在芯片正常运行的时候进入BIST模式，是不是就需要SOC的function实现BIST控制了？


输入指的是IP在SOC内部的pin口，会连接到SOC的数字逻辑上
复位和时钟通过SCAN_enable切换到PORT，比如PLL的倍频分频，是不是也可以切换到PORT口，因为如果是scan模式，这些pin的状态怎么控制呢？

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qiufeng 发表于 2022-11-17 18:06
多谢指点

我理解的BIST不需要每次运行前测试，只需要在CP阶段测试，这样就只需要在SCAN模式下实现BIST ...

不需要在线测试的话，普通SCAN可以满足，不需要增加LBIST部分；
这些IP的PIN口最终都接到最外层的PORT口了？配置PLL分频系数一般是通过写寄存器来实现的吧，模拟IP数字部分，应该是一些控制寄存器的配置？