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[原创] 求4篇可靠性和测试验证的文章,3x

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发表于 2022-6-8 09:07:14 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 shake2004 于 2022-6-8 09:12 编辑

1、Mission Profiles derived from lifetests and field return data using inverse problem theory,Zhongning Liang; Ramun M. Kho,2014 IEEE International Reliability Physics Symposium  ;
2、Determination of the stress level for voltage screen of integrated circuits,Ramun M Kho,September 2010Microelectronics Reliability 50(9-11):1210-1214.microrel.2010.07.103
3、Validating Foundry Technologies for Extended Mission Profiles,K. van Dijk,June 2010IEEE Xplore,Conference: Reliability Physics Symposium (IRPS), 2010 IEEE International
4、Control charts in semiconductor manufacturing,Ramun M Kho,January 2003Conference: ENBIS3 / ISIS3 conferenceAt: Barcelona, Spain Project: Statistical Process Control







 楼主| 发表于 2022-6-9 12:25:47 | 显示全部楼层
自己鼎一下,那位兄弟有?
发表于 2022-6-10 19:59:55 | 显示全部楼层
下了三篇,见附件

Determination of the stress level for voltage screen of integrated circuits.pdf

302.23 KB, 下载次数: 3 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

Validating_foundry_technologies_for_extended_mission_profiles.pdf

1.07 MB, 下载次数: 2 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

Mission_Profiles_derived_from_lifetests_and_field_return_data_using_inverse_prob.pdf

516.25 KB, 下载次数: 2 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

 楼主| 发表于 2022-6-10 21:26:12 | 显示全部楼层
谢谢,万分感谢
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