设为首页收藏本站
在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)

手机号码，快捷登录

手机号码，快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
创芯云服务  : 创芯大讲堂  | 创芯人才网 | 数字IC职业培训  EETOP诚邀线上IC培训讲师!
搜帖子
EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › VLSI Test Principles and Architectures Design for Te ...
123下一页
返回列表 发新帖
查看: 4102|回复: 28

[资料] VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

[复制链接]
dongcy
发表于 2022-3-22 20:37:09 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册，结交更多好友，享用更多功能，让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看，没有账号？注册

x
VLSI测试的经典书籍。

51VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability.pdf

5.14 MB, 下载次数: 131 , 下载积分: 资产 -3 信元, 下载支出 3 信元
回复

举报

fatal404
发表于 2022-3-22 22:10:03 | 显示全部楼层
全英的太难受了……
回复 支持 反对

举报

zoe0615
发表于 2022-3-22 22:25:15 | 显示全部楼层
謝謝分享
回复 支持 反对

举报

bee31441
发表于 2022-3-22 22:28:15 | 显示全部楼层
謝謝分享
回复 支持 反对

举报

zhsh94
发表于 2022-3-23 09:08:14 | 显示全部楼层
谢谢分享
EETOP创芯人才网简历投递入口
回复 支持 反对

举报

im.leo
发表于 2022-3-23 09:15:54 | 显示全部楼层
多谢分享  多谢分享  多谢分享  
EETOP创芯人才网职位发布入口
回复 支持 反对

举报

dcircuit
发表于 2022-3-23 19:00:07 | 显示全部楼层
haishikankanba
EETOP创芯人才网简历投递入口
回复 支持 反对

举报

lans0625
发表于 2022-3-23 19:12:30 | 显示全部楼层
谢谢分享
EETOP创芯人才网职位发布入口
回复 支持 反对

举报

liulongchao
发表于 2022-3-25 18:22:06 | 显示全部楼层
thanks
EETOP创芯人才网简历投递入口
回复 支持 反对

举报

fatal404
发表于 2022-3-29 10:05:44 | 显示全部楼层
确实是好书，thx
回复 支持 反对

举报

下一页 »
123下一页
返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-5 16:34 , Processed in 0.023869 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表