Cadence617中如何测试晶体管饱和状态下的参数

lyn960923 · 发表于 2021-12-8 21:29:55

0.18工艺，在晶体管饱和状态下，栅电压1.8V，漏电压1.8v，想测试NMOS管的uC的值，修改宽敞比在之后得出的uC值有很大变化，这是怎么一回事？如何测试晶体管饱和状态下uC,希望有大佬教学一下。万分感谢。

xgdky2010 · 发表于 2021-12-9 09:31:41

看是否管子依然工作在饱和状态。

lyn960923 · 发表于 2021-12-9 17:25:48

xgdky2010 发表于 2021-12-9 09:31
看是否管子依然工作在饱和状态。

依然工作在饱和状态，但是阈值电压似乎改变了，是不是因为我改变了L的原因。

xgdky2010 · 发表于 2021-12-10 09:43:51

lyn960923 发表于 2021-12-9 17:25
依然工作在饱和状态，但是阈值电压似乎改变了，是不是因为我改变了L的原因。 ...

应该是的

lyn960923 · 发表于 2021-12-10 14:47:18

xgdky2010 发表于 2021-12-10 09:43
应该是的

好的谢了

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