ADC差分输入采样采用交叉结构求助

wuhanhan8

大家好，我看到一个差分结构的SAR ADC的输入端采样如下图1，为交叉接法：图2为普通接法：
图1中vx，vy分别接两个电容的下极板（下极板采样），在phase1阶段vx=vinn，vy=vinp；phase2阶段将vx，vy短接在一起；对比图2的普通采样结构，请问有何优点？

vaeping123

底极板采样技术的优势：
底极板采样技术通过控制采样开关在输入开关之前断开（两相不交叠时钟控制）,从而保证电路在保持阶段的MOS沟道内的电荷不会流向右边的采样电容，而是回流输入端,避免引起误差。
具体可以参考文献：Hadidi K ,  Muramatsu D ,  Oue T , et al. A 500MS/sec–54dB THD S/H circuit in a 0.5m CMOS process[C]// Solid-State Circuits Conference, 1999. ESSCIRC '99. Proceedings of the 25th European. 1999.

zwtang

图1和图2是一样的呀，除了vx，vy的位置不同，你是不是搞错了？
zwtang
2021/11/16

wuhanhan8

   

zwtang 发表于 2021-11-16 17:45
图1和图2是一样的呀，除了vx，vy的位置不同，你是不是搞错了？
zwtang
2021/11/16

好像是的是我弄错了