TSMC_Applying_dynamic_voltage_stressing_to_reduce_early_failure_rate

eaglesmiling · 发表于 2021-11-13 15:02:59

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TSMC论文结果表明，与非DVS组相比，DVS组的失效率下降了80％。DVS可以有效筛出早夭样品，提高产品可靠性。

dcircuit · 发表于 2021-11-13 21:00:00

kanakn

bcck1 · 发表于 2021-11-13 23:12:20

非常感谢

waley · 发表于 2021-11-15 18:36:39

good
3q3q~

camelotking · 发表于 2021-11-16 02:04:45

Thank you

amigo.change · 发表于 2021-11-21 18:42:48

eaglesmiling · 发表于 2023-9-27 10:10:58

大家还有类似的论文分享不？

[原创] TSMC_Applying_dynamic_voltage_stressing_to_reduce_early_failure_rate