峰值检测

望而不见 · 发表于 2021-11-4 09:55:12

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求教：处理高频信号时，峰值检测中运放的带宽和相位要求较高，需要补偿，实现难度大。峰值检测中的运放能否用高速比较器代替？

hehuachangkai · 发表于 2021-11-4 15:30:59

这怎么检测的？

望而不见 · 发表于 2021-11-5 10:39:53

本帖最后由望而不见于 2021-11-5 10:41 编辑

hehuachangkai 发表于 2021-11-4 15:30
这怎么检测的？

Vin是被检测的信号，Vout是已保存到的峰值，运放比较两者的大小，控制PMOS的开断，为电容充电，实现峰值的检测。如果我理解的有问题的话，请提点我一下。

hehuachangkai · 发表于 2021-11-5 15:09:07

望而不见发表于 2021-11-5 10:39
Vin是被检测的信号，Vout是已保存到的峰值，运放比较两者的大小，控制PMOS的开断，为电容充电，实现峰值的 ...

我想了想，觉得那你输出那里的电容会需要大一点，使运放的SR不能太大，故意造成Vo变化跟不上Vin变化，否则就成了buffer。同时运放输出驱动PMOS那里，需要工作在线性区或者截止区，这样一看，我觉得它就是一个再生比较器。只不过在不再生的情况下，该结构类还能充当积分器作用，通过后续ADC等判断电路获得峰值大小等信息。不过，就算是后边还接有ADC区分峰值大小的话，应该也是可以设置多个峰值参考电压的；直接用可再生比较器来开环做，做成类似于flash ADC。如果不区分峰值大小，只需要知道峰值出现的个数的话，就用一个latch比较器，然后在数字域用累加器来搞定。特别提醒，这只是思路，我其实没有做过