峰值检测

望而不见 · 发表于 2021-11-4 09:55:12

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求教：处理高频信号时，峰值检测中运放的带宽和相位要求较高，需要补偿，实现难度大。峰值检测中的运放能否用高速比较器代替？

hehuachangkai · 发表于 2021-11-4 15:30:59

这怎么检测的？

望而不见 · 发表于 2021-11-5 10:39:53

本帖最后由望而不见于 2021-11-5 10:41 编辑

hehuachangkai 发表于 2021-11-4 15:30
这怎么检测的？

Vin是被检测的信号，Vout是已保存到的峰值，运放比较两者的大小，控制PMOS的开断，为电容充电，实现峰值的检测。如果我理解的有问题的话，请提点我一下。

hehuachangkai · 发表于 2021-11-5 15:09:07

望而不见发表于 2021-11-5 10:39
Vin是被检测的信号，Vout是已保存到的峰值，运放比较两者的大小，控制PMOS的开断，为电容充电，实现峰值的 ...

我想了想，觉得那你输出那里的电容会需要大一点，使运放的SR不能太大，故意造成Vo变化跟不上Vin变化，否则就成了buffer。同时运放输出驱动PMOS那里，需要工作在线性区或者截止区，这样一看，我觉得它就是一个再生比较器。只不过在不再生的情况下，该结构类还能充当积分器作用，通过后续ADC等判断电路获得峰值大小等信息。不过，就算是后边还接有ADC区分峰值大小的话，应该也是可以设置多个峰值参考电压的；直接用可再生比较器来开环做，做成类似于flash ADC。如果不区分峰值大小，只需要知道峰值出现的个数的话，就用一个latch比较器，然后在数字域用累加器来搞定。特别提醒，这只是思路，我其实没有做过

lynker · 发表于 2021-11-7 15:33:20

提供2个专利，一个高通的一个ADI的

望而不见 · 发表于 2021-11-7 21:32:58

hehuachangkai 发表于 2021-11-5 15:09
我想了想，觉得那你输出那里的电容会需要大一点，使运放的SR不能太大，故意造成Vo变化跟不上Vin变化，否 ...

感谢！SR不能太大是有道理的，如果充电太快，Vo甚至会超过Vin，那么就不是峰值检测了。不过，SR大应该不至于实现buffer的功能的，毕竟Vin下降的时候，PMOS关断，不会让Vo变化。如果在Vin上升的时候，能让Vo跟随Vin，那峰值检测效果是比较理想的。

望而不见 · 发表于 2021-11-7 21:38:54

lynker 发表于 2021-11-7 15:33
提供2个专利，一个高通的一个ADI的

感谢！有一个疑问，方便的话还请解答：峰值检测器，在输入信号下降时，输出信号保持已检测到的峰值，不跟随下降。那么包络检测器在输入信号下降时，输出信号是否也会保持峰值，还是会有所下降？

lynker · 发表于 2021-11-7 22:07:15

本帖最后由 lynker 于 2021-11-8 09:38 编辑

望而不见发表于 2021-11-7 21:38
感谢！有一个疑问，方便的话还请解答：峰值检测器，在输入信号下降时，输出信号保持已检测到的峰值，不跟 ...

缓慢下降，下降速度取决于设计需求

msbmsbmsb · 发表于 2024-7-8 19:28:59

感谢分享

semico_ljj · 发表于 2024-7-9 09:12:02

nicer...

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