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查看: 1464|回复: 5

[求助] dft测试的时候,单独测试子系统和top+子系统覆盖率不同

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发表于 2021-11-1 16:16:15 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 hillhwchen 于 2021-11-1 16:18 编辑

求助吧里面的大神,本人在做DFT测试的时候发现,单独测试一个子系统和top+子系统的时候,查看子系统的覆盖率不同,top+子系统里面子系统的覆盖率会低一些,这是什么原因导致的?(子系统的faults点相同,就是覆盖率不一样,但相差不是很大)
发表于 2021-11-1 16:45:32 | 显示全部楼层
这么明显看不出来? 分母变大了啊

点评

人家说的是都以子系统为主,faults点是一样的。  发表于 2021-11-2 09:09
发表于 2021-11-2 09:10:31 | 显示全部楼层
你的子系统做wrapper了吗?如果没有做wrapper,这二者肯定有差距,top+子系统时子系统的IO很多并不是随意控制的,肯定没有单独子系统时那么好控制

点评

说的有道理,不过我觉得他应该没做wrapper,做wrp chain的话,就不会说top+子模块一起去测试了。做了wrp,子模块直接retarget上去,top测一下子模块的边界  发表于 2021-11-2 10:36
 楼主| 发表于 2021-11-10 11:10:13 | 显示全部楼层


guiqix 发表于 2021-11-2 09:10
你的子系统做wrapper了吗?如果没有做wrapper,这二者肯定有差距,top+子系统时子系统的IO很多并不是随意控 ...


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