tetramax生成pattern的问题求助

duanwuqqqqqq

大家好：
      有个问题求助，欢迎指教！
      整个芯片包含两个子系统，这两个子系统分别作了scan，并且子系统的port直接连接到芯片顶层的port,在芯片顶层除了这两个子系统外没有任何其它逻辑。现在我有两个子系统的netlist、ctl文件、spf文件，想请教一下如何用tetramax生成芯片顶层的测试pattern?
      目前我的做法是在顶层综合时读入子系统的ctl文件，然后set_dft_signal、set_scan_configuration、set_dft_configuration、create_test_protocol、dft_drc、insert_dft、dft_drc、write_test_model、write_test_protocol。但是这样会在顶层网表中插入逻辑。
      哪位大神知道这种情况该如何做？我想要的目的就是1. 顶层不要插入任何逻辑；2. 生成顶层的spf文件以便在tetramax中生成测试pattern。
      多谢！

ham8665746

可以直接用tetramax生成spf，然后生成测试pat

duanwuqqqqqq

ham8665746 发表于 2021-8-23 17:31
可以直接用tetramax生成spf，然后生成测试pat

谢谢回复！
能简要说一下流程么？

elone

为什么要分成两部分做? dft里可以为每个子系统指定专用的扫描链,然后统一做dft生成spf

ham8665746

直接定义时钟、复位、使能、scanmode控制以及chain输入输出即可

duanwuqqqqqq

elone 发表于 2021-8-24 10:52
为什么要分成两部分做? dft里可以为每个子系统指定专用的扫描链,然后统一做dft生成spf ...

两个子系统都很大，需要用bottom-up flow,将两个子系统分别做好后集成到顶层。另一方面客户也要求两个子系统的scan要完全独立。

duanwuqqqqqq

ham8665746 发表于 2021-8-24 14:41
直接定义时钟、复位、使能、scanmode控制以及chain输入输出即可

多谢！
我试试看。