DFT 提高SDFFYRPQ寄存器未串链导致test coverage过低问题

jenniferzhao

各位dft大牛，有谁知道在gf工艺库下，使用dc对netlist做scan 时，这种SDFFYRPQ类型的寄存器不上链，导致atpg产生test coverage很低。
如何解决？
我的尝试：
1.将SDFFYRPQ寄存器换成普通寄存器，良率马上提高到99%，但和前端沟通过这个寄存器无法替换，所以这能采用其他办法
2.我试着给这个寄存器D端和Q端分别添加了一个udtp test point具体如下：
set obs_port [get_object_name [get_cells -hier -filter "(full_name=~*SDFFYRPQ2D_X1N_A9PP84TR_C16_dtouch*)"]]
foreach xx $obs_port {
    set_test_point_element -type observe ${xx}/D \
                        -clock_signal {occ_std_0_clock_core_clk_inst/tessent_persistent_cell_clock_out_mux/Y} \
                        -control_signal dft_scan_mode
    set_test_point_element -type observe ${xx}/Q \
                        -clock_signal {occ_std_0_clock_core_clk_inst/tessent_persistent_cell_clock_out_mux/Y} \
                        -control_signal dft_scan_mode
}
但scan综合后，atpg良率也没有提高，请教下有没有知道这种问题的（备注，这个模块是个bus模块，没有memory）？求解！