IC 电路修补 & FIB 技术

Brynn

IC电路修补(FIB,Circuit Repair)为一种快速且有效验证改版光罩之成效的工具，其可应用在新芯片设计侦错、除错， 验证改版效果，组件特性实验与故障分析皆为 IC电路修补(Circuit Repair)所提供之服务项目。


聚焦离子束系统(Focus ion beam, FIB)将液态金属镓(Ga)元素离子化后(→Ga+)，利用电场加速(30kV)，通过静电透镜聚焦后，打到
指定的区域；而离子束撞击表面产生的二次电子和二次离子，可以透过侦测器成像(Detector)，利用电子仪器放大讯号影像合成后，
透过计算机成像于屏幕上；加入相对应的气体配合不同大小孔径的针管，产生不同的蚀刻或沉积速率。


我司君海半导体技术(上海)有限公司于2009年8月成立于上海浦东张江。技术团队来自台湾，提供大上海地区专业的FIB服务,我们本著
“客户第一”的理念期望能第一时间解决客户的问题达到客户的需求让产品能够尽快上市提高市场竞争力我们提供了大上海地区上门
取件送件的服务。




注： 现推广高阶机台可免费试做40nm  Cu 简单方案2小时。
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Brynn  彭彭
18817847917（同微信）