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[求助] MIM电容版图寄生提取是否重复提取??!!

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发表于 2021-5-14 23:47:48 | 显示全部楼层 |阅读模式

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请问大家,如下图所示,单个MIM电容,版图后仿提取的calibre ,其中有个寄生电容是CC,和MIM电容差不多大,这是算重复提取了吗?如果是该怎么修改呢?MIM电容已经flatten了。
微信图片_20210514234618.png
发表于 2021-5-15 02:03:43 | 显示全部楼层
不知道你具体用的什么工艺,你可以搭个简单的testbench验证一下是不是重复提取了。我用asura提取MOM电容会出现这个重复提取的问题,我的解决方案是在config里面把相应电容的view改成symbol, 这样子保证后仿是正确的。
发表于 2021-5-15 11:37:39 | 显示全部楼层
好像是你打散了就要把识别层去掉,不然会重复提取
 楼主| 发表于 2021-5-15 12:07:42 | 显示全部楼层


方块forever 发表于 2021-5-15 02:03
不知道你具体用的什么工艺,你可以搭个简单的testbench验证一下是不是重复提取了。我用asura提取MOM电容会 ...


谢谢,我用的SMIC 0.18,config 里是symbol了已经

 楼主| 发表于 2021-5-15 12:08:50 | 显示全部楼层


wente 发表于 2021-5-15 11:37
好像是你打散了就要把识别层去掉,不然会重复提取


识别层去掉了lvs还能过吗
发表于 2021-5-15 12:55:20 | 显示全部楼层
要用hcell或者xcell,不要选flattern,选择gate lvl 可解重复提取。
 楼主| 发表于 2021-5-15 13:36:55 | 显示全部楼层


kaikanertan 发表于 2021-5-15 12:55
要用hcell或者xcell,不要选flattern,选择gate lvl 可解重复提取。


但是已经Flatten了,怎么恢复到之前啊
发表于 2021-5-25 19:26:17 | 显示全部楼层
问题以下方面思考
  原数据
    保证原数据(PDK里面器件)结构层没有缺失,提取文件正常识别器件。
  提取文件
    lvs rul 里面定义的 器件能被正常识别,并与普通金属进行有效区分并,区分出来的金属识别成net 部分。
    寄生提取文件 提取目标正确指向识别成net 部分的金属层。
满足上面条件 电容区域才能不被重复的提取寄生。
发表于 2021-5-25 19:32:14 | 显示全部楼层


jh1192239177 发表于 2021-5-15 12:07
谢谢,我用的SMIC 0.18,config 里是symbol了已经


calibre 提取网表跟 config 里是否设置symbol 没有直接关系吧。
如果是calibre 提取网表再转换成calibreview 时函数属性callback 要注意了。弄不好容易容值翻倍。
所以个人推荐后仿最好以网表的格式进行。
发表于 2022-3-14 16:15:49 | 显示全部楼层


jh1192239177 发表于 2021-5-15 13:36
但是已经Flatten了,怎么恢复到之前啊


楼主解决了吗?我用smic工艺提取mim寄生也遇到了CC很大的问题(CC/C0=0.45p/1p大概)?是重复提取的问题吗?我用calibreview或者网表的形式提出来的好像都差不多
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