测试中burn in和HTOL有什么区别么？

suxin007 · 发表于 2023-3-8 11:49:36

2楼回复没问题。补充一点，HTOL的老化时间长，为了找出中长期失效的芯片。BurnIn主要还是为了早期失效的芯片。芯片量产早期为了质量要求会做一段时间的100%BurnIn，后面没什么问题的话可以慢慢撤掉。普通消费级成本要求很低的产品一般不做。

caoxiangrong · 发表于 2023-5-7 10:48:09

piao · 发表于 2023-5-8 23:51:09

thanks for sharing

communicator · 发表于 2023-5-9 21:14:37

记得有一个浴盆寿命曲线， burn in就是把曲线开始那段（容易出问题）抹掉，给客户的是质量稳定的芯片

dmf336 · 发表于 2023-5-11 17:29:47

HTOL是属于可靠性验证的范畴了，芯片经过一定时长的HTOL环境，仍然可以工作，就代表一定时长的寿命，一般量产不会去做；量产一般做的是burn in测试，100%做或者抽样做，是量产必须的流程，多见于memory类的芯片。

Kamon · 发表于 2023-10-14 14:26:04

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