SPICE Model Contact 阻值问题

nerochen

小弟 SPICE Model 菜鸟工程师 一枚.
请问各位大佬, extract model时, 会考虑Contact阻值吗.
WAT量测的Silicon data肯定是带着Contact阻值的, 如果不考虑, 应该如何去除？

小弟目前遇到一个问题,
model sub-circuit计算contact数目的时候, 会用到取整(int). 而取整是会出现不连续的情况, 导致model card的Ion-width trend在narrow width处出现一个valley, short channel尤其明显. 但如果不考虑Contact阻值, 这个Valley就会消失.

小弟了解到, 目前大部分Fab的model card在计算Contact数目时都会用到取整. 也用软件跑过, 同样会出现这个Valley.
所以不知在这个Valley存在的情况下, model应该如何fitting？

谢谢各位！