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查看: 3263|回复: 8

[原创] 衬底的有源区问题

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发表于 2019-2-26 14:49:59 | 显示全部楼层 |阅读模式

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正常我们画MOS管的PUSB,都是一圈M1、ACT(AA)、P注入,当然还有CT。那下图这种情况的ring会不会多了一点lach的风险?run lvs的时候是可以过的,有源区是一层薄氧化层,这种存在实际流片后,左右衬底是连在一块么?
(将ring的横向M1切开,竖向走一根M1)

                               
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1551164350(1).jpg
发表于 2019-2-26 16:04:48 | 显示全部楼层
如果guardring是成环的,也就是在两端都会接到低电平上,就没有影响。如果不是,建议不要这么画,PSUB的寄生电阻还是有些大的
发表于 2019-2-26 17:07:53 | 显示全部楼层
可以用一小段M2 接起来呀
 楼主| 发表于 2019-2-26 17:13:26 | 显示全部楼层
回复 3# 去如风

哈哈  我的意思 是 后面的layout改版,只能用少数几层mask,如果真存在这样的情况去tapeout了,后果是什么,影响大不大?
发表于 2019-2-27 09:04:38 | 显示全部楼层
回复 4# 宫海龙


   你可以看下标准库里面的单元,有些rf管子的guide ring就是中间断了下。
发表于 2019-2-27 09:49:50 | 显示全部楼层
有些时候MOS器件衬底不画一圈ring都可以,这样断开一点增大了电阻而已没啥影响,只除非是ESD保护电路不能这么干。
发表于 2019-2-27 10:49:12 | 显示全部楼层
影响不大,逻辑电路里面不是都只是一小段tapod么,一般只有高压器件才会强制画完整的ring tapod,但也不会要求metal1是完整的,另外如楼上所讲ESD保护里面的ring轻易是不会动ring上的metal1的
完整的ring能减小Rwell(nw、pw)减小latch风险,od的电阻会比阱电阻小叠上metal1会进一步将这个寄生电阻减小
发表于 2019-2-27 16:10:57 | 显示全部楼层
一般这个口子开得不大的话应该是没什么问题的
发表于 2019-3-5 10:02:29 | 显示全部楼层
lvs可以过是因为实际上是连在一起的,只是通过Active连接的,这样连接的问题是衬底电阻较大因为Avtive电阻远比Metal连接要大的多,这样做一般正常mos管周围是没什么问题的,但是如果可以还是建议最好用Metal连一下比较好,这样衬底接触也比较好,能更有效的防止latch up。
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