如题,对芯片施加应力,对电器参数会有影响吗?
donaldtsl 发表于 2018-12-28 10:32
多年前看过 paper , package 后因应力
bandgap 差
6mv.
如果
power IC , multi chip package , 内建
mos因为会热, 会热应力
, 如果反复发生底层胶会 pilling. 导致
on resistance 会变大, 须对 package用超音波去扫. 早年想开发
power mos上迭
controldie 的
同步IC , 但问过封装厂除有难度外, 另个是下面的 powermos 会因热产生很多问题
., 国外IC 是如何做到不知道
. 所以有些 PSR(原边) . 强调单一DIE 是有原因的. 就内建
UHVmos , 不过, rds on 都比独立U/VMOS 大很多, 一般700v都
ron=20~30Ohm , 但独立MOS 很多
r=2~8Ohm , 但是
multidie 封装就是会热应力产生
yield loss . 量产才会看到这问题.
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