Thomas H. Lee's PP

OceanSKY · 发表于 2007-8-25 13:30:59

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Excessive High-Frequency Drain and Gate Current Noise in Short-Channel MOSFETs
Gleb V. Klimovitch
Thomas H. Lee, Yoshihisa Yamamoto
Electrical Engineering Department
Stanford University

markus_1 · 发表于 2007-10-1 22:19:26

Thank you

ana192712 · 发表于 2007-11-13 23:30:53

dddddddddd

tverzz · 发表于 2008-12-4 23:27:30

:victory::victory::victory::victory:

tverzz · 发表于 2008-12-8 21:02:11

:lol

shake2004 · 发表于 2008-12-14 16:11:40

不错，还有pp

:handshake

seagull76 · 发表于 2009-8-31 21:42:14

thanks

laker4 · 发表于 2010-11-1 15:43:28

谢谢不错

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