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[讨论] 在ATPG过程中如何处理bidirectional PAD?

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发表于 2017-12-20 20:00:49 | 显示全部楼层 |阅读模式

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想请教下,在测试过程中,对于一些bidirectional的PAD和一些测试过程中不需要关心的Input/Output 的PAD怎么处理呢?假如有些bidirectional PAD在测试时:
1)用于scan data input;
2)用于scan data output;
3)用于test mode or other control signal;
4)用于test clock;

是用add_input_constraints <bidirectional PAD> -CZ  ;for 2)
add_output_masks <bidirectional PAD> ; for 1),3),4)
其它的不关新的bidirectional不做处理。

还是用delete_primary_input/delete_primary_output 处理呢?
其它不关心的同时用delete_primary_input和delete_primary_output?

有什么考量?
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