关于比较器的输入失调电压

seeyung · 发表于 2017-11-9 15:47:54

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CMOS比较器存在输入失调电压，当比较器样本数很大时，它们的输入失调电压有没有统计规律？是正态分布吗？各位大佬，如果有知道的顺手贴一下参考文献

风也信子 · 发表于 2017-11-9 20:14:48

1，没造之前，一般符合正太分布
2，造完了，失调就坍缩成了相对固定的值，可由没造前的分布预测，但仍然会变，因为使用环境会变
造不准原则。。。

countersr · 发表于 2017-11-12 11:37:41

这逼装得牛呀！
书里和论文里都有呀，是不是正态分布找找就知道了

seeyung · 发表于 2017-11-17 10:45:02

回复 3# countersr

能否贴一下哪本书或论文里提到过？

seeyung · 发表于 2017-11-17 10:45:48

回复 2# 风也信子

能否贴一下哪本书或论文里提到过？

countersr · 发表于 2017-11-17 22:41:22

找个low offset的论文，有测试结果的那种

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