采样保持电路THD 和 ENOB 在400MHz时出现明显凹陷

不会起名字的xxx · 发表于 2017-7-24 16:16:21

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本帖最后由不会起名字的xxx 于 2017-7-25 08:41 编辑

在仿真PMOS源极跟随器构成的采样保持电路时，改变采样频率和输入信号频率，根据FFT结果得到的THD 和 ENOB 在400MHz时出现明显凹陷，请问是什么原因啊？

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不会起名字的xxx · 发表于 2017-7-27 09:05:52

开关使用的是普通的CMOS开关，去掉缓冲器后仿真的400MHz的THD 和ENOB值相近。不同的缓冲器对改点的影响程度不同。但是形成该点的原因应该不是缓冲器。改变采样电容值后该点似乎发生了漂移。是否与开关非线性有关？

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