资料推荐：ESD Testing: From Components to Systems

wjfwtt · 发表于 2017-3-12 11:21:56

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ESD Testing: From Components to Systems －－－ ESD测试：从组件到系统
随着半导体技术的发展和半导体业务的全球多样化，用于静电放电（ESD）和电过载（EOS）的半导体器件到系统的测试已经变得日益重要。

《ESD测试：从组件到系统》为读者，在新的测试，测试模型和用于ESD，EOS和闭锁的半导体元件表征技术方面进行了更新。

本书的主要特色：

提供对人体模型（HBM），机器模型（MM），充电设备模型（CDM），充电板模型（CBM），电缆放电事件（CDE），人类金属模型（HMM）等ESD模型和规格的理解和了解。，包括IEC 61000-4-2和IEC 61000-4-5。
讨论新的测试方法，如传输线脉冲（TLP），非常快的传输线脉冲（VF-TLP）和未来到超快速TLP（UF-TLP）的长脉冲TLP方法。
描述了芯片和系统级评估的常规测试和新测试技术。
解决EOS测试，电磁兼容性（EMC）扫描，电流重建方法。
讨论了用于评估半导体技术到产品测试的闭锁特性和测试方法。
《ESD测试：从组件到系统》是作者的静电放电（ESD）保护系列丛书的一部分;本书将是专业半导体芯片和系统级ESD和EOS测试工程师的无价之宝。半导体器件和工艺开发，电路设计人员，质量，可靠性和故障分析工程师也将发现它的一个重要参考。此外，它的学术处理将吸引对半导体工艺，器件物理，半导体测试和实验工作感兴趣的高级本科生和研究生。

资料下载地址：http://www.cloudioe.com/resources_details.aspx?id=6644