芯片dft测试时，生成两个pattern对应失效点不一致

jazzlxl · 发表于 2016-11-12 10:25:15

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

[求助]芯片dft测试时，生成两个pattern对应失效点不一致

pattern1失效的有一些用pattern2再测时候pass了
同时也有pattern1 pass的用pattern2再测时候fail了

eeares · 发表于 2016-11-14 14:34:17

首先你需要说明下pattern1/2之间的差别是什么，target的fault是否有不同。
按照我的理解，你的两个pattern target的fault是不同的，出现不同的结果也就不足为奇。

[求助] 芯片dft测试时，生成两个pattern对应失效点不一致