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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › Analog/RF IC 设计 › Analog/RF IC 资料共享 › 微纳米MOS器件可靠性与失效机理
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[资料] 微纳米MOS器件可靠性与失效机理

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cniclayout
发表于 2016-9-9 08:37:09 | 显示全部楼层 |阅读模式

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xuleiwx
发表于 2016-9-10 11:08:15 | 显示全部楼层
下载看看。
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cniclayout
 楼主| 发表于 2016-9-26 10:53:48 | 显示全部楼层
好资料，自己顶下！
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cniclayout
 楼主| 发表于 2016-10-11 08:00:47 | 显示全部楼层
自己顶一下！
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cniclayout
 楼主| 发表于 2016-10-26 14:06:43 | 显示全部楼层
自己顶一下！
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namixiaoxin
发表于 2017-9-14 00:18:03 | 显示全部楼层
正好需要学习一下！
好材料！
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sinspro
发表于 2019-5-10 21:34:44 | 显示全部楼层
集成电路的可靠性再筛选.pdf
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zhl2018
发表于 2019-7-10 16:55:07 | 显示全部楼层
谢谢分享
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tStone
发表于 2020-3-19 14:43:03 | 显示全部楼层
谢谢分享~~
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Wade_Wen
发表于 2020-7-16 13:38:49 | 显示全部楼层
好书，真棒
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