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[资料] VLSI测试方法学和可测性设计[非扫描版]

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发表于 2016-3-18 09:12:40 | 显示全部楼层 |阅读模式

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《VLSI测试方法学和可测性设计》==《超大规模集成电路测试》
本学期上课发现网上已经买不到了,在Google搜索一番找到的。

非扫描版。

QQ截图20160318091731.png

VLSI测试方法学和可测性设计.pdf (4.41 MB, 下载次数: 1131 )
发表于 2016-3-18 10:04:19 | 显示全部楼层
挺好挺好,谢谢分享啦
发表于 2016-3-18 13:20:07 | 显示全部楼层
楼主辛苦了
发表于 2016-3-19 17:51:29 | 显示全部楼层
kankan
发表于 2016-3-19 18:32:04 | 显示全部楼层




    非扫描版

GOOD
发表于 2016-3-20 23:02:04 | 显示全部楼层
下来看看
发表于 2016-3-20 23:02:53 | 显示全部楼层
今天净下十年老书
发表于 2016-3-21 00:27:38 | 显示全部楼层
VLSI测试方法学和可测性设计
发表于 2016-4-1 18:53:26 | 显示全部楼层
学习一下,谢谢分享!
发表于 2016-4-1 21:05:25 | 显示全部楼层
VLSI测试方法学和可测性设计.pdf (4.41 MB)
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