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楼主: laokang

[资料] 郝跃院士〈微纳米MOS器件可靠性与失效机理〉

发表于 2019-10-9 20:49:56 | 显示全部楼层

good, thanks

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发表于 2022-5-24 16:58:47 | 显示全部楼层

感谢分享，太多个包了

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发表于 2024-5-5 15:10:09 | 显示全部楼层

都知道2345是流氓软件，我重新进行了压缩：

微纳米MOS器件可靠性与失效机理.part1.rar

20.03 MB, 下载次数: 0 , 下载积分: 资产 -7 信元, 下载支出 7 信元

微纳米MOS器件可靠性与失效机理.part2.rar

20.03 MB, 下载次数: 0 , 下载积分: 资产 -7 信元, 下载支出 7 信元

微纳米MOS器件可靠性与失效机理.part3.rar

17.99 MB, 下载次数: 0 , 下载积分: 资产 -6 信元, 下载支出 6 信元

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